ISO 9001, ISO 14001, ISO 45001 und IECQ QC080000
Über 15 Jahre Erfahrung
KOSTENLOSE Muster zur Sicherstellung der Produktzufriedenheit
Schnelle Abwicklung: Massenproduktion in 15 - 20 Tagen abgeschlossen
Compact ICT probe for tight-pitch test point layouts. Low 58 gf spring force reduces board stress during testing. Contact resistance below 35 mΩ for accurate signal-level measurements.
| Gesamtlänge | Plunger Ø | Nennstrom | Kontaktwiderstand | Voller Hub | Arbeitstakt | Federkraft | Temperaturbereich | Haltbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 17,15 ±0,08 mm | Ø0,66 ±0,05 mm | 1.0 A | <35 mΩ | 3,25 mm | 1,83 mm | 58 gf ±20% | −40°C–150°C | ≥20.000 Zyklen |
| Spezifikation | Einzelheiten |
|---|---|
| Gesamtlänge | 17,15 ±0,08 mm |
| Plunger Ø | Ø0,66 ±0,05 mm |
| Nennstrom | 1.0 A |
| Kontaktwiderstand | <35 mΩ |
| Voller Hub | 3,25 mm |
| Arbeitstakt | 1,83 mm |
| Federkraft | 58 gf ±20% |
| Temperaturbereich | −40°C–150°C |
| Haltbarkeit | ≥20.000 Zyklen |
