Standard ICT probe for high-volume PCB testing. Built for lead-free solder pad contact in production-line bed-of-nails fixtures.
| Gesamtlänge | Plunger Ø | Nennstrom | Kontaktwiderstand | Voller Hub | Arbeitstakt | Federkraft | Temperaturbereich | Haltbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 34,60 ±0,20 mm | Ø0.50 ±0.02 mm | 3,0 A | unter 185 mΩ | 6,35 mm | 6,00 mm | 160 gf ±20% | −40°C–150°C | ≥200.000 Zyklen |
| Spezifikation | Einzelheiten |
|---|---|
| Gesamtlänge | 34,60 ±0,20 mm |
| Plunger Ø | Ø0.50 ±0.02 mm |
| Nennstrom | 3,0 A |
| Kontaktwiderstand | unter 185 mΩ |
| Voller Hub | 6,35 mm |
| Arbeitstakt | 6,00 mm |
| Federkraft | 160 gf ±20% |
| Temperaturbereich | −40°C–150°C |
| Haltbarkeit | ≥200.000 Zyklen |

