Compact crown head probe for ICT and functional test fixtures that run across wide temperature ranges. The serrated crown tip suits automotive thermal cycling and burn-in environments.
| Longitud total | Diámetro del émbolo | Resistencia de contacto | Rango de temperatura | Durabilidad | Corriente Nominal | Fuerza de resorte | Carrera de trabajo | Carrera completa |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 8.45 ±0.15 mm | Ø0.78 mm | Avg ≤30 mΩ | −40°C to 125°C | ≥100.000 ciclos | 1.0 A | 85 gf ±15 gf | 0.60 mm | 0.90 mm |
| Especificación | Detalles |
|---|---|
| Longitud total | 8.45 ±0.15 mm |
| Diámetro del émbolo | Ø0.78 mm |
| Resistencia de contacto | Avg ≤30 mΩ |
| Rango de temperatura | −40°C to 125°C |
| Durabilidad | ≥100.000 ciclos |
| Corriente Nominal | 1.0 A |
| Fuerza de resorte | 85 gf ±15 gf |
| Carrera de trabajo | 0.60 mm |
| Carrera completa | 0.90 mm |

