PB028B570B-30C — Double-End Probe, Ø0.13 mm

Especificación	Detalles
Longitud total	5.70 ±0.15 mm
Diámetro del émbolo	Ø0.13 ±0.01 mm
Resistencia de contacto	≤150 mΩ
Rango de temperatura	−40°C to 85°C
Durabilidad	≥100.000 ciclos
Corriente Nominal	2.0 A
Fuerza de resorte	30 gf ±20%
Carrera de trabajo	0.65 mm
Carrera completa	0.80 mm

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Categoría: Double-End Test Probes

Descripción
Información adicional

Fine-pitch double-end probe that bridges ultra-fine and standard test work. A good fit for production-volume IC and BGA test fixtures where you need more current capacity than the Ø0.08 mm allows without jumping to a full-size probe.

Longitud total	Diámetro del émbolo	Resistencia de contacto	Rango de temperatura	Durabilidad	Corriente Nominal	Fuerza de resorte	Carrera de trabajo	Carrera completa
5.70 ±0.15 mm	Ø0.13 ±0.01 mm	≤150 mΩ	−40°C to 85°C	≥100.000 ciclos	2.0 A	30 gf ±20%	0.65 mm	0.80 mm

Especificación	Detalles
Longitud total	5.70 ±0.15 mm
Diámetro del émbolo	Ø0.13 ±0.01 mm
Resistencia de contacto	≤150 mΩ
Rango de temperatura	−40°C to 85°C
Durabilidad	≥100.000 ciclos
Corriente Nominal	2.0 A
Fuerza de resorte	30 gf ±20%
Carrera de trabajo	0.65 mm
Carrera completa	0.80 mm

Longitud total	5.70 ±0.15 mm
Diámetro del émbolo	Ø0.13 ±0.01 mm
Resistencia de contacto	≤150 mΩ
Rango de temperatura	−40°C to 85°C
Durabilidad	≥100.000 ciclos
Corriente Nominal	2.0 A
Fuerza de resorte	30 gf ±20%
Carrera de trabajo	0.65 mm
Carrera completa	0.80 mm

PB028B570B-30C — Double-End Probe, Ø0.13 mm

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