PB031B570B-35B — IC Test Probe, 0.15 mm Plunger

Spécification	Détails
Longueur totale	5.70 ±0.15 mm
Plunger Diameter Ø	0.15 ±0.01 mm
Courant nominal	1,0 A
Résistance de contact	≤100 mΩ
Force du ressort	35 gf ±20%
Temps de travail	1,00 mm plein, 0,65 mm utile
Plage de température	−40°C–150°C
Durabilité	≥100 000 cycles

Spécification

Détails

Longueur totale

5.70 ±0.15 mm

Plunger Diameter Ø

0.15 ±0.01 mm

Courant nominal

1,0 A

Résistance de contact

≤100 mΩ

Force du ressort

35 gf ±20%

Temps de travail

1,00 mm plein, 0,65 mm utile

Plage de température

−40°C–150°C

Durabilité

≥100 000 cycles

Ultra-fine plunger IC test probe for high-density semiconductor packages. At 0.15 mm plunger diameter, it’s built for fine-pitch BGA and QFP test sockets where space between pads is tight. Contact resistance stays below 100 mΩ across 100,000+ test cycles.

Longueur totale	Plunger Diameter Ø	Courant nominal	Résistance de contact	Force du ressort	Temps de travail	Plage de température	Durabilité
5.70 ±0.15 mm	0.15 ±0.01 mm	1,0 A	≤100 mΩ	35 gf ±20%	1,00 mm plein, 0,65 mm utile	−40°C–150°C	≥100 000 cycles

Spécification	Détails
Longueur totale	5.70 ±0.15 mm
Plunger Diameter Ø	0.15 ±0.01 mm
Courant nominal	1,0 A
Résistance de contact	≤100 mΩ
Force du ressort	35 gf ±20%
Temps de travail	1,00 mm plein, 0,65 mm utile
Plage de température	−40°C–150°C
Durabilité	≥100 000 cycles

Résistance de contact	≤100 mΩ
Force du ressort	35 gf ±20%
Plage de température	−40°C–150°C
Durabilité	≥100 000 cycles
Longueur totale	5,70 ±0,15 mm
Courant nominal	1,0 A
Temps moteur	1,00 mm plein, 0,65 mm utile

PB031B570B-35B — IC Test Probe, 0.15 mm Plunger

Produits similaires

Se connecter