Standard ICT probe for high-volume PCB testing. Built for lead-free solder pad contact in production-line bed-of-nails fixtures.
| Longueur totale | Plunger Ø | Courant nominal | Résistance de contact | Course complète | Temps de travail | Force du ressort | Plage de température | Durabilité |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 34,60 ± 0,20 mm | Ø0.50 ±0.02 mm | 3,0 A | 185 mΩ | 6,35 mm | 6,00 mm | 160 gf ±20% | −40°C–150°C | ≥200 000 cycles |
| Spécification | Détails |
|---|---|
| Longueur totale | 34,60 ± 0,20 mm |
| Plunger Ø | Ø0.50 ±0.02 mm |
| Courant nominal | 3,0 A |
| Résistance de contact | 185 mΩ |
| Course complète | 6,35 mm |
| Temps de travail | 6,00 mm |
| Force du ressort | 160 gf ±20% |
| Plage de température | −40°C–150°C |
| Durabilité | ≥200 000 cycles |
